Рентгеновское исследование кристаллических структур / метод Лауэ с цифровым датчиком рентгеновского изображения (XRIS)
Принцип
Диаграммы Лауэ получают при облучении монокристаллов полихроматическим рентгеновским излучением. В основном этот метод используется для определения симметрии и ориентации кристаллов. Когда монокристалл LiF облучают полихроматическим рентгеновским излучением, получается характерная дифракционная картина.
Задание
1. Зарегистрируйте с помощью цифрового датчика рентгеновского изображения дифракцию Лауэ монокристалла LiF.
2. Соотнесите индексы Миллера соответствующих кристаллических поверхностей к отражениям Лауэ.
Получите понятие о
• кристаллические решетки
• кристаллические системы
• классы кристаллов
• решетка Браве
• обратная решетка
• индексы Миллера
• амплитуда структуры
• атомный форм-фактор
• уравнение Брэгга
Получаем понятие о
Получите понятие о
• кристаллические решетки
• кристаллические системы
• классы кристаллов
• решетка Браве
• обратная решетка
• индексы Миллера
• амплитуда структуры
• атомный форм-фактор
• уравнение Брэгга
Программное обеспечение входит в комплект поставки, компьютер необходимо приобрести дополнительно.
