Стенд для исследования свойств полупроводниковых структур методом вольт-фарадных характеристик ФЭ-ВФ
Назначение
Автоматизированные измерения вольт-фарадных и вольтамперных характеристик полупроводниковых структурСостав аппаратной части
- Измерительный блок со встроенными образцами
- Набор внешних образцов
- Персональный компьютер
- Автоматизированные измерения C-V и G-V- характеристик полупроводниковых структур
- Автоматизированные измерения ВАХ полупроводниковых структур
- Расчет профиля распределения концентрации легирующей примеси
- Определение емкости и толщины диэлектрика, сопротивления подложки МДП-структуры