Стенд для исследования фотоэлектрических явлений в полупроводниках ФЭ-ОМ

Стенд для исследования фотоэлектрических явлений в полупроводниках ФЭ-ОМ

Назначение

Автоматизированные измерения фотоэлектрических характеристик полупроводниковых материалов и приборов

Состав аппаратной части
  • Измерительный блок
  • Оптическая система с набором светодиодов и фотоприемников
  • Персональный компьютер


Функциональные возможности

  • Автоматизированные измерения люкс-амперных, спектральных, переключательных характеристик фотоприемников
  • Расчет электрофизических параметров исходного материала

Оптическая система с открытой крышкой

Оптическая система с открытой крышкой




Набор светодиодов

Набор светодиодов




Фотоприемники

Фотоприемники


*
*
Цена: по запросу
*
Вернуться в раздел

Документация

Методические указания по выполнению лабораторной работы