Стенд для исследования фотоэлектрических явлений в полупроводниках ФЭ-ОМ
Назначение
Автоматизированные измерения фотоэлектрических характеристик полупроводниковых материалов и приборов
Состав аппаратной части- Измерительный блок
- Оптическая система с набором светодиодов и фотоприемников
- Персональный компьютер
| Количество источников излучения (светодиодов): | 10 |
| Количество источников излучения (светодиодов): | 400-1000 нм |
| Количество приемников излучения: | 6 |
| Диапазон изменения напряжения источников излучения: | 0-10 В |
| Диапазон изменения напряжения приемников излучения: | 0-6 В |
| Диапазон измерения тока приемников излучения: | 0,3-3000 мкА |
| Диапазон измерения фото-э.д.с.: | 5-500 мВ |
| Диапазон измерения длительности переходного процесса тока приемников излучения: | 0,1-200 мс |
Функциональные возможности
- Автоматизированные измерения люкс-амперных, спектральных, переключательных характеристик фотоприемников
- Расчет электрофизических параметров исходного материала
Оптическая система с открытой крышкой
Набор светодиодов
Фотоприемники
