Рентгеновское изучение кристаллических структур / метод Лауэ
Принцип
Диаграммы Лауэ получают при облучении монокристаллов полихроматическим рентгеновским излучением. Этот метод в основном используется для определения симметрии и ориентации кристаллов. Когда монокристалл LiF облучают полихроматическим рентгеновским излучением, получается характерная дифракционная картина. В эксперименте этот образец фотографируется, а затем оценивается.
Задание
1. Запишите на пленке дифракцию Лауэ монокристалла LiF.
2. Соотнесите индексы Миллера соответствующих кристаллических поверхностей к отражениям Лауэ.
Получите понятие о
• кристаллические решетки
• кристаллические системы
• классы кристаллов
• решетка Браве
• обратная решетка
• индексы Миллера
• амплитуда структуры
• атомный форм-фактор
• уравнение Брэгга
Получаем понятие о
Получите понятие о
• кристаллические решетки
• кристаллические системы
• классы кристаллов
• решетка Браве
• обратная решетка
• индексы Миллера
• амплитуда структуры
• атомный форм-фактор
• уравнение Брэгга
