Атомное разрешение поверхности графита с помощью СТМ (сканирующий туннельный микроскоп)
Принцип
Приближение очень острого металлического наконечника к электропроводящему образцу при приложении электрического поля приводит к возникновению тока между наконечником и образцом без какого-либо механического контакта. Этот так называемый туннельный ток используется для исследования электронного рельефа на вспомогательном нанометровом масштабе поверхности свежеприготовленного графита (ВОПГ). При сканировании линии наконечника построчно по поверхности графита изображаются атомы и гексагональные структуры.
Преимущества
• Наблюдение атомов в течение нескольких минут
• Микроскоп специально разработан для использования в учебных лабораториях
• Микроскоп состоит из одного компактного портативного прибора, никаких дополнительных инструментов не требуется
• Вибростойкий прибор для лучших и воспроизводимых результатов
• Может использоваться как для работы с изображениями атомного разрешения, так и для спектроскопии
• Возможность проведения дополнительного эксперимента с образцом золота.
• Интерактивное учебное и обучающее программное обеспечение
Задание
1. Подготовьте кантилевер Pt-Ir и образец графита (HOPG) и приблизьте кантилевер к образцу.
2. Изучите топографию в режиме постоянного тока.
3. Изобразите расположение атомов графита на пробе при оптимизации параметров туннелирование и сканирование. Интерпретируйте структуру, анализируя углы и расстояния между атомами и атомными рядами и используя 2D и 3D модель графита.
4. Измерьте и сравните изображения в режимах постоянной высоты и постоянного тока.
Получаем понятие о
Получите понятие о
• туннельный эффект
• гексагональные структуры
• сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
• изображения в вспомогательном нанометровом масштабе
• пьезоэлектрические приборы
• локальная плотность состояний (ЛПС)
• режим постоянной высоты
• режим постоянного тока
Программное обеспечение входит в комплект поставки, компьютер необходимо приобрести дополнительно.
| Наименование | Номер артикля | Кол-во |
|---|---|---|
| Компактный сканирующий туннельный микроскоп | 09600-99 | 1,00 |
| Графит, модель, 2D | 09620-00 | 1,00 |
| Набор для моделирования кристаллической решетки, графит | 39840-00 | 1,00 |
