Установка "Исследование полупроводников методом эффекта Холла", МВ-ЭХ
Назначение
Автоматизированные измерения зависимости эдс Холла от индукции магнитного поля, температуры и тока в образцеСостав аппаратной части
- Измерительный блок
- Магнитная система со встроенными образцами
- Персональный компьютер
| Габариты: | 120х70х65 мм (магнитная система) |
| Масса: | не более 2 кг. (магнитная система) |
| Количество образцов: | 2 |
| Максимальная индукция магнитного поля в зазоре: | 0,15 Тл |
| Максимальный ток через образец: | 4 мА |
| Максимальное напряжение на образце: | 6 В |
| Диапазон измерения эдс Холла: | 200 мВ |
| Максимальная температура образца: | 100 °С |
- Автоматизированные измерения зависимости эдс Холла от индукции поля при различных значениях температуры и тока через образец и при различной полярности электрического и магнитного полей
- Построение зависимости удельной электропроводности, концентрации и подвижности носителей заряда от температуры
- Определение ширины запрещенной зоны материала полупроводника
Функциональные возможности
Плата с элементами Холла
Магнитная система
