Установка для исследования биполярных структур, ЭЛБ-150.008.01

Установка для исследования биполярных структур, ЭЛБ-150.008.01

Установка для исследования биполярных структур, ЭЛБ-150.008.01 позволяет реализовать цикл лабораторных работ:

- Измерение ВАХ p–n-перехода и сравнение её с идеальной характеристикой.
- Исследование прямой ветви ВАХ различных схем диодного включения транзистора при различных температурах.
- Измерение обратной ветви ВАХ электронно-дырочного перехода при различных температурах. Исследование явления пробоя.
- Измерение входных характеристик транзистора при различных напряжениях на коллекторе и различных температурах.
- Исследование семейства выходных характеристик транзистора при различных температурах.
- Передаточные характеристики и характеристики обратной связи биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером.


*
Цена: по запросу
*
Вернуться в раздел

Документация

СПЕЦИФИКАЦИЯ