Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000 (с ПК)
Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов.
Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов.
Для того чтобы сайт работал корректно, рекомендуем использовать один из поддерживаемых браузеров