Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000 (с ПК)
Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов.
| Увеличение: | от х2 тысяч до х10 млн. |
| Диапазон измерения: | от 0.2 нм до 30 мкм |
| Режимы: | все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов |
