Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000 (с ПК)

Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000 (с ПК)

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов.


Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн.
Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм
Режимы: все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов

Сканирующая зондовая микроскопия

*
*
Цена: по запросу
*
Вернуться в раздел

Документация