Основные методы визуализации микро- и наноструктур

Основные методы визуализации микро- и наноструктур

Принцип

 Приближение острого кремниевого наконечника, установленного на кантилевере к поверхности образца, приводит к взаимодействию на атомном уровне. Результатом взаимодействия является изгиб кантилевера, который обнаруживается лазером. В статическом режиме результирующий прогиб используется для исследования топографии поверхности образца построчно с использованием контура обратной связи. В динамическом режиме кантилевер колеблется с фиксированной частотой, что приводит к затуханию амплитуды вблизи поверхности. Параметры измерения (заданное значение, усиление обратной связи) играют решающую роль для качества изображения. Для различных наноструктурированных образцов исследуется влияние параметров измерения на качество изображения. изображения.

Преимущества

   • Исследование в статическом и динамическом режиме

   • Модификация многочисленных параметров для оптимизации качества изображения

   • Проведение экспериментов с различными образцами

   • Отличное соотношение цены и качества

   • Специально разработан для использования в учебных лабораториях

   • Микроскоп состоит из одного компактного портативного прибора, никаких дополнительных инструментов не требуется

   • Вибростойкий прибор для лучших и воспроизводимых результатов

Задание

  1. Узнайте, как установить кантилевер (с иглой) и приблизьте его иглу к образцу.

  2. Изучите влияние параметров сканирование на качество и характеристики изображения, например, коэффициент усиления ПИД, заданное значение (силы), амплитуду колебаний и скорость сканирование. Используйте режим статической и динамической силы.

  3. Получите изображения различных образцов (микроструктуры, углеродные нанотрубки, поперечное сечение кожи, бактерии, CD-штамп, структура чипов, стеклянные шарики) при оптимизации соответствующих параметров.

Получаем понятие о

Получите понятие о

   • атомно-силовая микроскопия (АСМ)

   • потенциал Леннарда-Джонса

   • визуализация наноструктур

   • режим статической силы

   • режим динамической силы

   • цепь обратной связи

   • сила

   • амплитуда колебаний

 

Программное обеспечение входит в комплект поставки, компьютер необходимо приобрести дополнительно.

Наименование Номер артикля Кол-во
Компактный АСМ, атомно-силовой микроскоп 09700-99 1,00
*
Цена: по запросу
*
Вернуться в раздел

Документация

p2538000e.pdf

Experiment guide, English