Установка "Исследование полупроводников методом эффекта Холла", МВ-ЭХ
Назначение
Автоматизированные измерения зависимости эдс Холла от индукции магнитного поля, температуры и тока в образцеСостав аппаратной части
- Измерительный блок
- Магнитная система со встроенными образцами
- Персональный компьютер
- Автоматизированные измерения зависимости эдс Холла от индукции поля при различных значениях температуры и тока через образец и при различной полярности электрического и магнитного полей
- Построение зависимости удельной электропроводности, концентрации и подвижности носителей заряда от температуры
- Определение ширины запрещенной зоны материала полупроводника
Функциональные возможности
Плата с элементами Холла
Магнитная система
