Стенд для исследования биполярных структур ТЭ-БС
Стенд для исследования биполярных структур ТЭ-БС предназначен для автоматизированных измерений характеристик биполярных транзисторов.
Состав аппаратной части
- Измерительный блок с установленной в него термокамерой и образцами биполярных транзисторов
- Персональный компьютер
Функциональные возможности
Стенд позволяет реализовать цикл лабораторных работ:- измерение ВАХ p–n-перехода и сравнение её с идеальной характеристикой,
- исследование прямой ветви ВАХ различных схем диодного включения транзистора при различных температурах,
- измерение обратной ветви ВАХ электронно-дырочного перехода при различных температурах,
- исследование явлений лавинного и туннельного пробоя,
- измерение входных характеристик транзистора при различных напряжениях на коллекторе и различных температурах,
- исследование семейства выходных характеристик транзистора при различных температурах,
- передаточные характеристики и характеристики обратной связи биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером.
Образцы биполярных транзисторов
Измерительный блок с открытой крышкой