Стенд для исследования биполярных структур ТЭ-БС

Стенд для исследования биполярных структур ТЭ-БС

Стенд для исследования биполярных структур  ТЭ-БС предназначен для автоматизированных измерений характеристик биполярных транзисторов.

Состав аппаратной части

  • Измерительный блок с установленной в него термокамерой и образцами биполярных транзисторов
  • Персональный компьютер


Функциональные возможности

Стенд позволяет реализовать цикл лабораторных работ:
  • измерение ВАХ p–n-перехода и сравнение её с идеальной характеристикой,
  • исследование прямой ветви ВАХ различных схем диодного включения транзистора при различных температурах,
  • измерение обратной ветви ВАХ электронно-дырочного перехода при различных температурах,
  • исследование явлений лавинного и туннельного пробоя,
  • измерение входных характеристик транзистора при различных напряжениях на коллекторе и различных температурах,
  • исследование семейства выходных характеристик транзистора при различных температурах,
  • передаточные характеристики и характеристики обратной связи биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером.

Образцы биполярных транзисторов

Образцы биполярных транзисторов




Измерительный блок с открытой крышкой

Измерительный блок с открытой крышкой

*
*
Цена: по запросу
*
Вернуться в раздел

Документация

Методические указания по выполнению лабораторной работы