Автоматизированный лабораторный стенд для исследования полупроводниковых структур методом вольт-фарадных характеристик ФЭ-ВФ

Автоматизированный лабораторный стенд для исследования полупроводниковых структур методом вольт-фарадных характеристик ФЭ-ВФ

Автоматизированный лабораторный стенд для исследования полупроводниковых структур методом вольт-фарадных характеристик ФЭ-ВФ

Предназначен для автоматизированных измерений вольт-фарадных и вольтамперных характеристик полупроводниковых структур.

Цена: по запросу

    Состав аппаратной части
  • Измерительный блок со встроенными образцами
  • Набор внешних образцов
  • Персональный компьютер
    Функциональные возможности
  • Автоматизированные измерения C-V и G-V- характеристик полупроводниковых структур
  • Автоматизированные измерения ВАХ полупроводниковых структур
  • Расчет профиля распределения концентрации легирующей примеси
  • Определение емкости и толщины диэлектрика, сопротивления подложки МДП-структуры

*
Цена: по запросу
Цена: по запросу
Цена: по запросу
Цена: по запросу
Цена: по запросу