Автоматизированный лабораторный стенд для исследования фотоэлектрических явлений в полупроводниках ФЭ-ОМ

Автоматизированный лабораторный стенд для исследования фотоэлектрических явлений в полупроводниках ФЭ-ОМ

Автоматизированный лабораторный стенд для исследования фотоэлектрических явлений в полупроводниках ФЭ-ОМ

Предназначен для автоматизированных измерений фотоэлектрических характеристик полупроводниковых материалов и приборов.

Цена: по запросу


    Состав аппаратной части
  • Измерительный блок
  • Оптическая система с набором светодиодов и фотоприемников
  • Персональный компьютер
    Функциональные возможности:
  • Автоматизированные измерения люкс-амперных, спектральных, переключательных характеристик фотоприемников
  • Расчет электрофизических параметров исходного материала

Оптическая система с открытой крышкой

Набор светодиодовФотоприемники

fotosystem

 fotoled fotosamples

*
Цена: по запросу
Цена: по запросу
Цена: по запросу
Цена: по запросу
Цена: по запросу